?SJ5730-100國產輪廓測量儀器具有12mm~14mm以上的大量程粗糙度測量范圍，分辨率達到1nm或更高，可以一次測量同時評定輪廓和粗糙度參數。儀器配置了特殊分離式操作桿，操作桿在儀器操作移動時，可放置在任何位置控制操作，在測量工件前對測針進行粗定位；在脫離電腦的情況下，操作桿具備左右/上下移動測針、急停、測桿上下角度擺動及速度分多級調節功能。

光學3D表面輪廓儀是一款用于對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量的檢測儀器。有非接觸式無損檢測，一鍵分析、快速高效的優點。

光學3D表面輪廓測量儀，是一款用于對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量的檢測儀器。 非接觸式無損檢測，一鍵分析、快速高效

中圖儀器3d光學輪廓儀國內品牌的重建算法自動濾除樣品表面噪點，在硬件系統的配合下，分辨率可達0.1nm。它以白光干涉技術為原理、結合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進行非接觸式掃描并建立表面3D圖像，通過系統軟件對器件表面3D圖像進行數據處理與分析，并獲取反映器件表面質量的2D、3D參數，從而實現器件表面形貌3D測量。

中圖儀器SuperViewW1光學輪廓測量儀品牌由光學照明系統、光學成像系統、垂直掃描控制系統、信號處理系統、應用軟件構成。以白光干涉技術為原理，能夠以優于納米級的分辨率，非接觸測量樣品表面形貌，主要用于表面形貌紋理，微觀結構分析，用于測試各類表面并自動聚焦測量工件獲取2D，3D表面粗糙度、輪廓等一百余項參數，廣泛應用于光學，半導體，材料，精密機械等領域。

OP光學輪廓儀主要用于測量表面形貌或測量表面輪廓，也能測量晶圓翹曲度，適合晶圓，太陽能電池和玻璃面板的翹曲度測量，應變測量以及表面形貌測量。也稱為白光干涉儀 (WLI)，是一款以白光干涉技術為原理，能夠以優于納米級的分辨率，非接觸測量樣品表面形貌的光學測量儀器。測量三維形貌的系統原理是在視場范圍內從樣品表面底部到頂部逐層掃描，獲得數百幅干涉條紋圖像，找到該過程中每一個像素點處于光強最大時的位置，完