SuperView系列光學3D表面輪廓儀在光通信行業中的應用

在5G建設、物聯網及云計算行業發展、AR&VR&視頻等應用滲透率不斷提高等因素的推動下，全球網絡流量呈現持續的高增長態勢，流量迅猛增長促進全球大型數據中心與超大型數據中心數量不斷增加，帶動了光通信行業的迅猛發展，也促進了其中作為核心器件光波導需求的大幅增長。

FA光纖陣列是平面波導分路器的重要部件之一，在光通信行業中廣泛應用，其在生產過程中需要對光纖端面進行光學研磨拋光以提高光纖通訊的傳輸效率。因為光纖連接器的插入損耗及回波損耗與光纖表面的粗糙度存在對應關系，表面粗糙度值越低，光纖連接器的插入損耗值越小，回波損耗值越高，光纖的傳輸效率就越高，因此必須嚴格控制光纖端面的表面粗糙度。

在光纖端面的檢測需求中，需要測量FA光纖陣列端面光纖中心250×250μm區域內的表面粗糙度，要求Sz參數控制在200nm之內，由于該數值主要是由于光纖端面中心存在一圓形凸臺所產生，因此Sz數值雖然不小但因光纖端面具有超光滑、透明等特征，導致基于鏡頭對焦3D成像的光學檢測儀器均存在焦面重建失真的風險和問題，而基于光學干涉實現3D成像測量的白光干涉儀則是能夠克服光纖端面超光滑和透明的難點，輕松實現針對光纖端面粗糙度的測量。

圖.光纖端面光學干涉條紋圖

中圖儀器SuperView W1光學3D表面輪廓儀，是基于白光干涉原理和納米掃描系統研制而成，其具備0.1nm的縱向分辨率和全透明表面干涉條紋成像的能力，能夠輕松實現針對FA光纖端面粗糙度Sz參數的高精度、高重復性的一鍵式測量。

從測量視頻可知，在測量光纖端面的過程中，使用自主開發的光學3D表面輪廓儀軟件，能夠自由預配置好數據處理與分析工具，只需一鍵“自動測量"，即可直接完成對端面微觀形貌的3D重建和獲取最終Sz數值結果。

圖.光纖端面測量場景及3D圖像

針對光通信行業中光波導器件的光纖端面粗糙度的檢測需求，中圖儀器推出SuperView系列光學3D表面輪廓儀，可助力行業客戶輕松實現針對產品表面質量的監測與管控，以專業的技術服務，為客戶提供產品，創造價值。